한국NI, 컴팩트한 설계, 저비용 테스트 장비 STS(Semiconductor Test System) 시
한국NI(한국내쇼날인스트로먼트)는 이번달 4일부터 6일까지 서울 코엑스(COEX)에서 개최되는 ‘SEMICON KOREA 2015’에 참가, 테스트 비용을 절감할 수 있는 반도체 개발·검증·테스트·양산 통합 솔루션과 데모를 시연해 보일 예정이다.
반도체 테스트 장비 중 하나인 STS(Semiconductor Test System) 시리즈는 반도체 양산 환경에서 사용할 수 있으며 기존의 ATE 테스터보다 작은 작업 공간에서 사용 가능하며 전력 소모량과 유지보수 노력이 줄어들기 때문에 테스트 비용을 절약할 수 있다.
소프트웨어 업그레이드로 비용절감 효과 커
STS 시리즈는 기존의 ATE 테스터보다 작은 작업 공간에서 사용 가능하다. 또한 내장되어 있는 소프트웨어는 업그레이드를 통한 개선이 가능하여 시스템이 오래되거나 새로운 요구사항을 반영할 경우 드는 재정비 비용이 들지 않아 비용절감 효과를 볼 수 있다.
또한 일체형 테스트헤드에는 NI PXI플랫폼, TestStand 테스트관리 소프트웨어, LabVIEW 그래픽 프로그래밍이 결합되어 있다. ‘헤드에 내장된 테스터’ 설계에는 시스템 컨트롤러, DC, AC, RF 계측, DUT 인터페이싱, 장비 핸들러/ 프로버 도킹 기계 장치 등 생산 테스터의 주요 구성요소가 모두 포함되어 있다. 헤드에 주요 요소를 구성한 컴팩트한 설계 때문에 기존의 ATE 테스터보다 작은 작업 공간에서 사용이 가능하다. 따라서 전력 소모량과 유지보수 노력이 줄어들기 때문에 테스트 비용을 절약할 수 있다.
STS 시리즈에는 반도체 테스트 관리를 위한 기능이 추가된 TestStand, 코드 모듈 개발을 위한 LabVIEW, 시스템 교정을 위한 내장 시스템 기능, 진단, 리소스 모니터링, 컨트롤이 포함되어 있다. 또한 해당 반도체 장비의 테스트 계획에 따라 신속하게 코드 모듈을 개발할 수 있어 비용절감이 가능한 소프트웨어이다.
신속한 개발과 배포가 가능하게 설계된 TestStand
TestStand는 테스트 프로그램을 신속하게 개발하고 배포할 수 있도록 설계 되었으며, 즉시 실행 가능한 테스트 관리 소프트웨어이다. TestStand를 사용하여 여러 가지 프로그래밍 언어로 작성된 코드 모듈을 통합하는 테스트 시퀀스를 개발할 수 있다. 사용자는 손쉽게 실행 흐름과 리포트, 데이터베이스 로깅, 다른 기업 시스템으로의 연결 등을 맞춤 설정할 수 있다.
TestStand의 주요기능을 보면 ▲멀티 사이트를 지원할 수 있는 Test Sequence Editor ▲운영자 인터페이스 ▲DUT binning ▲핸들러/프로버 통합 제어 ▲강력한 디버깅 도구 ▲데이터베이스 연결 기능을 갖춘 표준 ▲타사 계측과의 통합테스트 ▲데이터 포맷(STDF) 지원 ▲DUT 중심 테스트 프로그래밍을 위한 핀과 채널 맵핑 등을 갖추고 있다.
RF 및 혼합 신호 반도체 테스트를 위한 첨단 계측
핵심 STS측정 엔진은 업계 최초로 벡터 신호 트랜시버(VST)에서 NI SourceAdapt 기술을 갖춘 SMU(Source Measure Unit)에 이르기까지 첨단 NI PXI(업계 표준 하드웨어 플랫폼) 모듈형 계측기를 바탕으로 하여 구현되었다. NI나 PXISA의 다른 회원사가 새로운 PXI 모듈을 출시할 때마다 STS의 전반적인 기능이 향상된다.
RF 계측 모듈에는 벡터 신호 분석기(VSA), 신호 생성기(VSG), 파워 미터, 벡터 네트워크 분석기(VNA), 벡터 신호 트랜시버 (VST)가 포함된다. 26.5GHz의 벡터 신호 분석기는 측정성능, 속도, 유연성과 함께 다이나믹 범위와 765MHz의 대역폭을 결합한 제품이다.
RF 서브시스템
STS에서 멀티포트 RF 테스트를 위한 RF 포트 확장 모듈을 사용할 수 있다. 이 서브시스템의 핵심은 컴팩트한 3슬롯 PXI모듈에 RF 신호 생성과 분석을 위한 최대 200 MHz의 리얼타임 대역폭을 제공하는 벡터 신호 트랜시버(VST)이다.
RF 포트 확장 모듈로 여러 개의 VST를 설정할 수 있으며, 전체 서브시스템은 STS 안에 완전히 내장되어 있다. STS는 이 RF 서브시스템을 활용하여 유비쿼터스 RF 프런트엔드(RFFE) IC, RF MEMS와 같이 최근에 각광받는 반도체를 포함하여 다양한 범위의 RFIC를 위 서식 한 완벽한 생산 테스트 플랫폼을 제공한다.
SourceAdapt 기술을 탑재하고 있는 DC 계측
SourceAdapt 기술을 탑재하고 있는 고속 NI SMU를 사용하면 캐패시티브 로드가 있을 경우에도 SMU 응답을 최적화할 수 있다. NI SMU는 강력한 DC 또는 전압-전류(VI) 테스트 성능을 갖추고 최대 100fA 전류 측정 해상도를 제공하므로 웨이퍼와 패키지 장비테스트에 모두 적합하다.
또한 NI는 최대 24비트 또는 12.5GS/s의 다양한 오실로스코프/디지타이저와 최대 145MHz의 아날로그 대역폭을 가진 여러 가지 임의 파형 생성기를 통해 데이터 컨버터, MEMS가속도계 등의 반도체의 AC계측 기능을 제공한다.
NI PXI플랫폼은 핀별 파라미터 측정 기능을 갖춘 디지털 계측기(PMU), 최대 12.5Gb/s의 고속 시리얼 프로토콜(HSD), 최고 60W의 범용 전원 공급 장치, 다양한 디지털 및 혼합 신호 테스트 요구사항을 위한 7½자리 고성능 멀티미터 등의 폭넓은 핵심 계측 기능을 갖추고 있다.
LabVIEW사용으로 코드 모듈 개발기간 단축
LabVIEW는 복잡한 기존 코드 설계 방식과는 달리 직관적인 그래픽 개발 환경을 제공하므로 하드웨어 통합을 단순화하고 개발 시간을 단축시킨다.
바로 실행할 수 있는 예제와 내장 템플릿 및 샘플 프로젝트, 즉시 사용할 수 있는 엔지니어링 IP를 갖춘 LabVIEW를 사용하면 해당 반도체 장비의 테스트 계획에 따라 신속하게 코드 모듈을 개발할 수 있다.
프레임워크 제공으로 향후 테스트 요구사항 충족
모듈형 오픈 설계를 바탕으로 하는 STS는 테스트 기능을 개선하고 향후의 테스트 요구사항을 충족시키는 프레임워크를 제공한다. 그렇기 때문에 첨단 PXI계측, 최고의 상용 컴퓨팅 기술을 탑재한 최신 PXI컨트롤러, 또는 표준 19인치 랙 장비로 핵심 구성요소를 업그레이드하거나 보강할 수 있다. 따라서 기술 표준이 여러 차례 바뀌어도 테스트 시스템에 대한 투자를 보존할 수 있으며 변화하는 요구사항에 효율적으로 대응하여 소요 비용을 절감할 수 있다.
한편, SEMICON KOREA 2015 전시회에는 700V 이상의 고전압이 요구되는 Motor Driver IC를 디자인할 때 효율적인 고전력 PXI테스터도 함께 전시 될 것으로 보인다.
또한 전시회 기간 중 Future Test Challenges를 논의하는 Test Forum에서는 NI STS와 PXI의 효율성을 분석할 수 있는 기회가 마련된다.
한국NI에 대하여
NI는 전세계 40 곳 이상의 지사에서 약 5,200 여명의 전문 인력이 근무하고 있고 90 개국 이상 30,000여 개 회사에 제품을 공급하고 있다. 사업비의 16%를 R&D투자하고 있는 NI는 1994년에 한국 지사를 설립했다.
한국NI는 현재 매년 두 자리수의 성장세를 보이고 있고 전세계 4번째로 자국어 LabVIEW를 보유하고 있다.
자료출처 | 한국NI(korea.ni.com)
