위상 배열 초음파 기술이 적용된 테스트 장비 Omniscan X3

Olympus

Olympus는 위상 배열 초음파 기술(PAUT, phased array ultrasound technology)을 적용하여 Omniscan 테스트 장비에 새로운 모델을 추가했다.
  Omniscan X3 테스트 장치는 전체 테스트 프로세스를 개선하는 혁신으로 표준을 높인다. TFM (Total Focusing Method)을 사용한 후속 이미지 처리와 함께 FMC (Full Matrix Capture)를 사용한 빠르고 효율적으로 구성 가능한 테스트 설정 및 이미지 캡처 덕분에 의사 결정이 훨씬 쉬워졌다. 시험이 완료된 후 트렌드 설정 소프트웨어 기능은 분석 및 리포트를 단순화한다.

통합된 포괄적 계획 지원을 통해 테스트를 시작하기 전에 테스트 절차에 대한 아이디어를 얻을 수 있다. 이것은 오류의 위험을 줄일 수 있다. TFM 영역을 포함한 전체 테스트 계획은 간단한 프로세스로 작성할 수 있다. 또한 개선된 보정 기능과 센서 및 사운드 번들 그룹의 동시 구성 지원, 이중 선형, 매트릭스 및 이중 매트릭스 어레이 센서를 통한 통합 생성 및 선도적인 웨지(wedge)의 자동 검사는 더 빠른 장치 설정을 보장한다.

자료 제공: Olympus(www.olympus.de)