Vieworks 뷰웍스, 슈나이더와 손잡고 토탈 광학 솔루션 제공

TDI 라인스캔 카메라에 최적화한 최상급 렌즈 ‘VEO’ 출시

뷰웍스가 글로벌 렌즈 업체 슈나이더 크로이츠나흐(Schneider Kreuznach)와 산업용 렌즈를 공동 개발하며 토탈 광학 솔루션을 향한 첫 걸음을 내딛었다.

최고의 카메라 제조사와 최고의 렌즈 제조사가 손을 잡다

세계적으로 디스플레이와 반도체 분야의 성장이 두드러지며 머신 비전 업계에서도 보다 고사양 제품의 요구가 나날이 증가하고 있다. 이러한 흐름을 따라 국내 머신 비전 업계도 개별 부품의 단순 조합을 넘어 부품의 최대치 그 이상을 발휘하는 최적의 종합 솔루션을 제공하는 형태로 탈바꿈하고 있다.

이에 뷰웍스는 최근 제품의 성능을 극대화할 수 있는 광학 솔루션을 구현하고자 슈나이더사와 손을 잡게 되었다. 슈나이더사는 지난 100년 동안 다양한 분야(일반 산업용, 일반 광학용, 군수산업용, 영화산업용)의 렌즈를 설계 및 제작하며 쌓아온 전문성과 기술력으로 인정받는 글로벌 렌즈 제조사이다.
 

슈나이더사 또한 성장하는 우리나라 업체의 기술력을 감지하고 렌즈 외의 광학 솔루션을 제공하여 자사 렌즈의 성능을 배가할 수 있는 파트너를 찾던 시점에 뷰웍스와 뜻을 함께 하게 됐다.
 

뷰웍스의 카메라에 슈나이더의 렌즈의 기술력이 더해져 탄생한 것이 뷰웍스의 첫 번째 산업용 렌즈 제품군인 VEO 시리즈다.

TDI 라인 스캔에 최적화된 VEO 시리즈

VEO 시리즈는 TDI 라인 스캔 카메라에 최적화되어 설계된 제품으로 뷰웍스의 VT 시리즈와 함께 사용할 시 성능을 극대화시킬 수 있다.
 

총 다섯 렌즈군의 제품을 두 개의 서브 시리즈로 나누어 출시하여 선택의 폭을 넓혔다. JM과 CS 두 서브 시리즈 중 사용하는 카메라와 호환되는 서브 시리즈를 선택하여 사용할 수 있다. VEO JM 시리즈는 VT 시리즈(M95) 그리고 VEO CS 시리즈는 VT 시리즈(M72)에 각각 맞춤제작 되었다.
 

VEO JM 시리즈는 16k / 5 ㎛ 라인 센서를 탑재한 VT 시리즈(M95)에 최적화된 렌즈이므로 82 mm 라인 센서의 카메라에서 최대 성능을 발휘한다. 이와 다르게 VEO CS 시리즈는 12k / 5 ㎛ 라인 센서의 VT 시리즈(M72)를 위한 렌즈이므로 62.5 mm 라인 센서의 카메라와 사용시 최상의 영상 품질을 구현할 수 있다.

 
고배율, 고해상도의 고성능 렌즈

독보적인 성능을 뽐내는 VEO 시리즈는 슈나이더사에서 제조하는 렌즈 중에서도 최상위 등급인 다이아몬드와 사파이어 등급으로만 이루어져 있다.
 

렌즈 결상 능력의 판단 기준이 되는 MTF(Modulation Transfer Function) 성능이 높을 뿐만 아니라 대구경(82mm)에 따른 위치별 MTF 편차를 최소화하여 중앙부에서 최 외곽부까지 전 영역에 걸쳐 높은 MTF 성능을 보이는 고성능 제품이다.

색수차 또한 현저히 적으며, 가장 많이 적용된 5 ㎛ 센서에 최적화 개발되어 72 LP/mm(상측 기준) 이상의 좁은 선폭에서도 성능 저하를 보이지 않는다. VEO 시리즈는 최대 5.0X 배율의 고배율 렌즈까지 선보이며 VT 시리즈와 사용 시 픽셀 당 1.0 ㎛의 해상도까지 구현할 수 있다.

5.0X 배율 렌즈 VEO_JM DIAMOND 5.0X / F1.3 제품의 경우 1.1 ㎛의 크기까지 분해할 수 있는 뛰어난 분해능(resolving power)을 구현한다. 최대 F/1.3까지 조절되는 조리개 값으로 인해 NA(Numerical Aperture)가 0.305(물체측 기준)에 달하고 해외 경쟁사 동일 배율대의 렌즈들과 비교하여도 뛰어난 성능을 자랑한다.
 

이처럼 높은 배율과 해상도 덕분에 VEO 시리즈는 고성능을 요구하는 미세결함 검출에 더욱 용이하다. 3.33X 배율의 VEO_JM DIAMOND 3.33X / F2.1 제품의 경우 픽셀 당 1.5 ㎛ 해상도를 구현한다. 문턱값(threshold value)을 15로 설정하여 결함 검출력을 검증한 결과 Pin-hole 결함의 경우 0.6 ㎛ 이상 검출이 가능함을 확인했으며, 동일 조건상 Island 결함의 경우 1.1 ㎛ 이상 검출이 가능하다. Open, Short 결함의 경우 Pin-hole 결함보다 더 높은 검출 수준을 나타낸다.
  

VEO 시리즈의 뛰어난 검출력은 여러 분야에서 활용될 수 있다. 대면적, 고속 검사가 필수적인 FPD(OLED/LCD/μLED 등) 검사 분야에서 특히 두각을 나타낼 수 있으며, 그 외에도 반도체 Wafer 검사와 PCB 검사 등 고성능을 요구하는 다양한 분야에 적합하다.

완벽한 맞춤형 솔루션

VEO 시리즈는 단순히 높은 스펙만 갖춘 제품이 아니다. 사용자가 보다 쉽게, 다양한 분야에 적용하여 사용할 수 있다. VEO 시리즈의 전 제품은 V-마운트 인터페이스를 사용하기 때문에 마운트를 보다 편리하게 설치할 수 있다. 더불어 최적 성능 포인트(best azimuth point)가 마킹되어 있어 사용자가 렌즈를 직접 회전하여 손쉽게 세팅할 수도 있다.
 

또한 사용자의 조명 선택의 폭을 한층 넓히기 위해 빔 스플리터(beam splitter)를 장착하여 동축(coaxial) 타입의 조명을 적용할 수 있도록 제작되었다. 무엇보다 Auto Focus 유닛을 포함한 전체 광학계를 한 모듈 형태로 구성이 컴팩트하며, 장비 적용 관점에서 광학계 폭을 대폭 축소하여 장비 시스템 구성이 용이하다.
 

VEO 시리즈는 토탈 광학 솔루션을 향한 뷰웍스의 첫걸음일 뿐이다. 뷰웍스의 카메라를 기반으로 슈나이더사의 고성능 렌즈와 광학적 특성 외 검사 대상 제품에 최적화된 조명 솔루션, 그리고 독자적인 스마트 카메라 기술을 활용한 오토 포커싱 유닛 등의 기술을 확보하여 최종적으로 사용자 요구에 최적화된 광학 솔루션을 한 번에 제공한다는 목표를 가지고 있다. 앞으로의 뷰웍스는 단순 부품이 아니라 고객에게 특화된 맞춤 광학 솔루션을 제공할 것이다.

제품 주요 스펙

VEO JM 시리즈

16k VT 시리즈 (M95)에 최적화된 산업용 렌즈

VEO_JM DIAMOND 5.0X / F1.3

- 배율:  5.0 (4.9 … 5.1)

- 초점거리: 100 mm

- 최대 이미지 서클: 82 mm

- 최적 조리개 수치: F/1.3

- Numerical Aperture: 0.305_Object Plane

- 심도: 6.8 ㎛_(C.O.C 10 ㎛ 계산시)

- Field of View: 16.384 mm

- Working Distance: 31 (32 … 30) mm

- Object to Image 거리: 691 ± 2 mm

VEO_JM SAPPHIRE 1.67X / F3.0

- 배율: 1.67 (1.62 … 1.72)

- 초점거리: 118 mm

- 최대 이미지 서클: 82 mm

- 최적 조리개 수치: F/3.0

- Numerical Aperture: 0.101_Object Plane

- 심도: 59.1 ㎛_(C.O.C 10 ㎛ 계산시)

- Field of View: 49.152 mm

- Working Distance: 51 (52 … 50) mm

- Object to Image 거리: 495 ± 2 mm

VEO_JM DIAMOND 3.33X / F2.1

- 배율: 3.33 (3.2 … 3.4)

- 초점거리: 121 mm

- 최대 이미지 서클: 82 mm

- 최적 조리개 수치: F/2.1

- Numerical Aperture: 0.180_Object Plane

- 심도: 16.6 ㎛_(C.O.C 10 ㎛ 계산시)

- Field of View: 24.576 mm

- Working Distance: 39 (40 … 38) mm

- Object to Image 거리: 665 ± 2 mm

VEO_JM SAPPHIRE 1.43X / F3.0

- 배율: 1.43 (1.38 … 1.47)

- 초점거리: 120 mm

- 최대 이미지 서클: 82 mm

- 최적 조리개 수치: F/3.0

- Numerical Aperture: 0.097_Object Plane

- 심도: 72 ㎛_(C.O.C 10 ㎛ 계산시)

- Field of View: 57.344 mm

- Working Distance: 50 (51 … 49) mm

- Object to Image: 494 ± 2 mm

VEO CS 시리즈

12k VT 시리즈 (M72)에 최적화된 산업용 렌즈

VEO_CS DIAMOND 5.0 X / F1.6

- 배율: 5.0 (4.9 … 5.1)

- 초점거리: 82 mm

- 최대 이미지 서클: 62.5 mm

- 최적 조리개 수치: F/1.6

- Numerical Aperture: 0.261_Object Plane

- 심도: 8.0 ㎛_(C.O.C 10 ㎛ 계산시)

- Field of View: 12.484 mm

- Working Distance: 34 (34.3 … 33.6) mm

- Object to Image 거리: 574 ± 2 mm

자료 제공: Vieworks(vision.vieworks.com)