칩 검사를 위한 턴키 머신 비전 시스템

주요기사

• 고속카메라 ‘Phantom C540·C980’, 고해상도·저노이즈 BSI 센서로 고속 현상 포착
• JAI, RGB·NIR을 최대 146kHz로 동시 촬영하는 CXP-12 라인 스캔 카메라
• IDS, IP69K·PoE로 열악한 환경에 대응하는 모니터링 카메라 ‘uEye SFA’
• Excelitas, 300~1700nm 감도의 SWIR 카메라
• Active Silicon, 10·30배 줌과 글로벌 셔터 결합한 AF-Zoom 카메라
• 칩 검사를 위한 턴키 머신 비전 시스템
• 레이저 스캐너 RSL400
• 산업용 애플리케이션을 위한 클라우드 솔루션
• 광학 단일 링크 비디오 전송을 위한 송수신기 조합
• NVIDIA Jetson을 위한 멀티 카메라 솔루션
• IDT 고속 카메라 CCM Series