소닉스, BLU 자동 결함 검사장비

소닉스는 1991년 창립 이후 비전(특히 이미지 프로세싱) 기술을 기반으로 FPD(LCD·PDP·BLU·OLED 등) 검사 시스템을 생산하고 있으며, 비전 기술과 모션컨트롤 기술을 접목시킨 얼라인 시스템(Align System)을 개발하여 LCD·PDP프로브·웨이퍼SAW 등의 장비에 적용하고 있다.

이 회사에서 제공하는 BLU 자동 결함 검사장비는 강력한 결함 추출 알고리즘을 적용하여 낮은 대조의 결함 검출을 진행하고, 신뢰성 있는 결함 계측 알고리즘을 통해 정확하게 결함 사이즈를 계측한다. 뿐만 아니라 BLU 표면의 먼지 제거 알고리즘을 적용하여 BLU 표면의 먼지를 제외한 실제 결함만을 추출할 수 있는 기능이 내재돼 있다.

■ 기본 검사 항목
·이물(군[群] 이물 포함)
·백점(군[群] 백점 포함)
·실오라기/암[暗]선
·스크래치/휘[輝]선
·암부
·얼룩(흑 얼룩, 백 얼룩)
·(LED 등) 점등 불량
·빛샘 불량
·조립 불량(시트 미삽, 오삽, 과삽)
·균일도 검사