미르기술, AOI & SPI를 위한 ISIS 비전시스템
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AOI와 SPI 검사기에서 광학 검사 장비의 특성상 성능에 큰 영향을 미치는 요소는 고해상도 카메라의 사양이다.
카메라 해상도가 높을수록 빠르고 정밀한 검사가 실현되며, 제품 하나를 생산하는데 필요한 시간인 택트 타임(Tact Time)을 확보하여 픽셀 크기를 작게 할 수 있다. 이에 영상의 선명도가 향상되어 반복되는 검사에도 가성불량이 없는 안정된 검사 결과를 보장한다.
미르기술의 ISIS 비전시스템은 한 번에 큰 면적의 FOV(Field of View)를 촬영하여 세계 최고 속도의 검사성능을 실현한 것으로 유명하다.
이 시스템은 5/10/15M픽셀의 다양한 고해상도 카메라를 제공하여 생산 현황에 맞는 최적의 사양을 선택할 수 있도록 한다. 미르기술에 따르면, ISIS 비전시스템의 초고해상도 카메라는 택트 타임의 확보를 통해 더욱 작은 픽셀 크기의 렌즈를 적용할 수 있으며, 0402 칩을 검사할 수 있다.
