InView, SWIR 카메라

마스터 압축 센싱의 도전
압축 센싱 카메라는 일반 카메라처럼 만들어지는 것이 아니다. 일반적인 카메라는 픽셀 당 검출기 다이오드 초점 평면배열(FPA)을 사용하기 때문에 이런 FPA 방식에는 단점이 생긴다.

FPA가 비가시적 파장을 얻기엔 비용이 많이 든다는 사실이다. 왜냐하면 InGaAs가 FPA를 조작하는데 필요한 신소재나 SWIR(Shortwave Infrared)과 같은 단파 적외선을 얻는데 어려움이 있기 때문이다.

반면에 압축 센싱은 비용을 절감할 수 있다. 컴퓨팅 이미지 처리를 사용하는 측정방법으로 고가의 검출물질 양을 줄이기 때문이다.

InView는 강력한 압축 센싱 카메라를 구축하는 새로운 기술발명이 시급했다. 하지만 그들은 수많은 문제에 직면했다. 예를 들어 압축 센싱 아키텍처로 인커밍 이미지에 대해 FPA가 한 번에 이뤄지는 것보다 짧은 기간에 광학 측정 시리즈를 만드는 것이다.

아웃풋 이미지는 계산적으로 연결된 측정을 사용하지만 배경 조명의 수준이 변할 수 있다. 배경에서 그러한 변화는 측정된 이미지 정보와 혼합되고 아웃풋 이미지의 품질을 떨어뜨릴 것이다.

이 문제를 인식한 InView는 기본적인 조명 측정 문제를 해결하여 특허 출원을 제기했다.